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高低溫試驗箱對于散熱試驗樣品的試驗,其散熱功率不能超過試驗箱制冷量,因制冷量為動態(tài)值,其隨溫度點變化而有所變化,同時,較高溫度也會因散熱產(chǎn)品帶來熱量須冷卻平衡時引起凝露而受到影響。
更新時間:2022-09-20
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  隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電工、電子等產(chǎn)品的應(yīng)用域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施,才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞,在使用過程中安全可靠。因而,電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學(xué)概括,具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點,環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。
  高低溫試驗箱適用于考核和確定電工電子產(chǎn)品或其他材料產(chǎn)品在溫度變化下,對產(chǎn)品(整機)、零部件材料進(jìn)行高溫、低溫定值試驗,以及滿足本設(shè)備技術(shù)參數(shù)的溫度降溫速率,可用于散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。對于散熱試驗樣品的試驗,其散熱功率不能超過試驗箱制冷量,因制冷量為動態(tài)值,其隨溫度點變化而有所變化,同時,較高溫度也會因散熱產(chǎn)品帶來熱量須冷卻平衡時引起凝露而受到影響。
一、規(guī)格與型號
| 設(shè)備名稱 | 低溫試驗箱、高低溫試驗機、低溫箱 | ||||||
| 注 明 | 1、以下設(shè)備數(shù)據(jù)均需在環(huán)境溫度(QT)25℃.工作室無負(fù)載條件下測得; | ||||||
| 型 號 | GDW-100 | GDW-225 | GDW-500 | GDW-800 | GDW-010 | ||
| 工作室 尺寸 | 450×450 ×500 | 500×600 ×750 | 700×800 ×900 | 800×1000 ×1000 | 1000×1000 ×1000 | ||
| 外形尺寸 | 950×900 ×1620 | 1000×1150×1870 | 1250×1350×2050 | 1450×1550×2200 | 1450×1580 ×2280 | ||
| 功率(kw) A/B/C/D/E | 3.0/4.0/4.5/6.0 | 3.5/5.0/5.5/ 6.5 | 6.0/7.0/7.5/ 8.5 | 7.0/9.0/11.0/12.5 | 9.0/10.0/11.5/13.0 | ||
| 性 能 指 標(biāo) | 溫度范圍 | A: 0℃~150℃ B: -20℃~150℃ C: -40℃~150℃ D:-60℃~150℃ E: -70℃~150℃ | |||||
| 波動/均勻度 | 
 ±0.5℃/±2℃ | ||||||
| 升溫速率 | 1~3℃/min | ||||||
| 降溫速率 | 0.7~1℃/min | ||||||
| 溫度運行控制系統(tǒng) | 控制儀 | 
 | |||||
| 輸出方式 | 脈沖式固態(tài)繼電器(PID%2BSSR)輸出; | ||||||
| 傳感器 | 鉑電阻 PT100Ω/MV | ||||||
| 加熱系統(tǒng) | 耐高溫磁架鎳鉻合電加熱式加熱器 | ||||||
| 制冷系統(tǒng) | 1、全封閉風(fēng)冷單級壓縮制冷方式 2、全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式原裝法“泰康” | ||||||
| 保護(hù)系統(tǒng) | 漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護(hù) | ||||||
| 定時功能 | 0.1~999.9(S、M、H)可調(diào),停電記憶、一鍵恢復(fù)功能 | ||||||
| 設(shè)備材料配置 | 外形材料 | 碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理 | |||||
| 內(nèi)膽材料 | SUS304不銹鋼拉絲線條板 | ||||||
| 門框密封 | 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條 | ||||||
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 不銹鋼樣品架2個、測試引線孔(Ø50、Ø80、Ø100mm)1套 | ||||||
二、參 照 標(biāo) 準(zhǔn)
GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008 技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001 試驗B:高溫試驗方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

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